D2 PHASER是一臺便攜式X射線衍射儀它可廣泛應用于研究和質量控制。它操作簡便，使用方便。配備了LYNXEYE探測器的D2 PHASER衍射儀是目前市場上速度快，精度高的桌面衍射儀系統(tǒng)。

現在介紹一下D2衍射儀分析可吸入二氧化硅的應用。

  可吸入二氧化硅已經被確認可以導致肺癌和其他的一些健康問題。而二氧化硅是土壤和巖石的典型的組成部分。在諸如礦工，硅藻土和建筑工人，花崗巖，陶器，耐火磚，鑄造工人等職業(yè)中，由可吸入二氧化硅導致的職業(yè)病已經引起高度重視。而在這些工人的工作環(huán)境中，可吸入二氧化硅的濃度是可以監(jiān)測的。X射線粉末衍射能夠區(qū)分二氧化硅的不同晶型（石英，方石英，鱗石英）此外，X射線衍射還可以鑒別出在工作環(huán)境中存在的其他的有害物質。在空氣中懸浮的二氧化硅顆粒可以用濾膜來進行采樣。

  一些發(fā)達國家制定了監(jiān)測可吸入二氧化硅的標準，如NIOSH7500，OSHAID-142，MSHA的P-2等等。通常來講，確定可吸入二氧化硅的濃度需要一系列的標準樣品和通過軟件確定的定標曲線。標樣的制作過程是將不同重量的可吸入二氧化硅沉積在濾紙上，然后將濾紙和樣品放在一個特殊的樣品架上使用D2PH ASER測量二氧化硅的很強峰的衍射強度。實驗細節(jié)參考表1。

  圖1顯示了幾個樣品的很強衍射峰。其衍射強度與沉積在濾膜上的石英粉塵濃度成正比。D2的測量數據和由此制作的標定曲線*符合美國NIOSH規(guī)范標準。零點偏移量為2.7微克（NIOSH7500允許偏移量為±5微克）。這個例子中的檢出限（LOD）為8微克。如果增加每步的測量時間，可以進一步降低檢出限。例如每步的時間為5秒鐘，總的掃描時間約25分鐘，可以將檢出限降低至5微克以下。對于濃度超過100微克的樣品，標定精度優(yōu)于1%。濃度在10至100微克之間的樣品，其標定精度約為10%。

  總之，Bruker的桌面X射線衍射系統(tǒng)D2 PHASER可以快速，準確和符合規(guī)范標準地對空氣中的可吸入二氧化硅顆粒濃度進行定量分析。